QFN12-0.5,翻盖老化座,qfn12测试座
QFN12翻盖弹片测试座
产品简介
产品用途编程座、测试座,对QFN的IC芯片进行烧写、测试适用封装QFN12 引脚间距0.5mm测试座QFN12-0.5特点采用U型顶针,接触更稳定
规格尺寸
QFN12编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
型号引脚间距(mm)脚位芯片尺寸QFN-12-0.50.5123*3
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